■課程特色與說明
因工商環境步調加快，產品研發及工程時程縮短，相對能容許的試驗時間及樣本數，也被要求縮小並不能減少技術評估正確性，在此前提下唯有設法提高加速試驗技術，得到相對的時間加速倍數，方能滿足上述所有需求，但目前加速試驗技術尚有許多細節不明，本課程即針對加速試驗技術，提供對應的技術因應，如下列項目:
1.決定加速因子
2.決定試驗條件
3.故障分析
4.加速倍數推算
5.如何推算可靠度
6.應用面討論(HALT/HASS)
7.執行面常見問題
8.實例及參考資料等。
有關常見的HALT/HASS/HASA/HAST/HAXX/THB...等，皆源自高加速試驗概念，本課皆有明確解讀，講師在可靠度已獲國內業界肯定，並協助執行許多顧問案，對學員一定獲益良多， 特此推薦！
數位課程 參考連結 https://www.udemy.com/user/weng-tian-shan-morgan-wun/
■課程大綱
01.高加速試驗基本概念及應力/強度概念
1.1高加速試驗（Highly Accelerated Test）解讀
1.2核心基本概念 1.3應力/強度概念
02.加速因子應力效應分析(高溫/高濕/高壓/低壓/振動等)
03.加速因子及故障結構分析,試驗前注意事項
3.1半導體施加應力之測試，故障結構分析
3.2加速應力試驗前注意事項
04.高加速試驗計畫訂定(因子/應力/t/n/T/AF/CL等)
4.1試產計畫設定因子 4.2舉例說明
4.3因子應力加速倍數計算
05.試驗結果,如何推算可靠度(故障率/MTBF/MTTF等)
06.應用面A:從ORT/ELT/ALT/LLT到HALT/HASA/HAST/THB
07.應用面B:從Burn-In/Aging/ESS到HASS
7.1方法解讀 7.2 剔除早期故障效果討論
08.高加速試驗(HAXX)執行面問題
8.1高加速試驗（HA××）常見執行面問題
8.2 解決建議
09.實例:A.它公司執行例 B.設備評估
附件:A.GEM Table
B.MIL-HDBK-338B,8.7Accelerated Test
C.EIA ENGINEERING BULLETIN
D.TN-00-18,Technical Note
E.可靠度高加速試驗之執行問題探討Paper
F.早期失效模式實例
G.PCBA 製程振動篩選研究
H.文章︰產品可靠度驗證與測試
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